BS EN 61967-6-2002 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.磁性探测法
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时间:2024-05-19 17:31:56
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【英文标准名称】:Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions,150kHzto1GHz-Measurementofconductedemissions-Magneticprobemethod
【原文标准名称】:集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.磁性探测法
【标准号】:BSEN61967-6-2002
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2002-10-24
【实施或试行日期】:2002-10-24
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电磁辐射;测试;测量技术;印制电路板;集成电路;测试装置;电气工程;频率范围;校正;高频;测量;探测法;测试条件;试验设备
【英文主题词】:Calibration;Electricalengineering;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;Frequencyranges;Highfrequencies;Integratedcircuits;Measurement;Measuringtechniques;Printed-circuitboards;Probemethods;Testset-ups;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:ThispartoftheIEC61967specifiesamethodforevaluatingRFcurrentsonthepinsofanintegratedcircuit(IC)bymeansofnon-contactcurrentmeasurementusingaminiaturemagneticprobe.ThismethodiscapableofmeasuringtheRFcurrentsgeneratedbytheICoverafrequencyrangeof0,15MHzto1000MHz.ThismethodisapplicabletothemeasurementofasingleICorachipsetofICsonthestandardizedtestboardforcharacterizationandcomparisonpurposes.ItisalsousabletoevaluatetheelectromagneticcharacteristicsofanICorgroupofICsonanactualapplicationPCBforemissionreductionpurposes.Thismethodiscalledthe"magneticprobemethod".
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200;33_100_10
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.磁性探测法
【标准号】:BSEN61967-6-2002
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2002-10-24
【实施或试行日期】:2002-10-24
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;电磁辐射;测试;测量技术;印制电路板;集成电路;测试装置;电气工程;频率范围;校正;高频;测量;探测法;测试条件;试验设备
【英文主题词】:Calibration;Electricalengineering;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;Frequencyranges;Highfrequencies;Integratedcircuits;Measurement;Measuringtechniques;Printed-circuitboards;Probemethods;Testset-ups;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:ThispartoftheIEC61967specifiesamethodforevaluatingRFcurrentsonthepinsofanintegratedcircuit(IC)bymeansofnon-contactcurrentmeasurementusingaminiaturemagneticprobe.ThismethodiscapableofmeasuringtheRFcurrentsgeneratedbytheICoverafrequencyrangeof0,15MHzto1000MHz.ThismethodisapplicabletothemeasurementofasingleICorachipsetofICsonthestandardizedtestboardforcharacterizationandcomparisonpurposes.ItisalsousabletoevaluatetheelectromagneticcharacteristicsofanICorgroupofICsonanactualapplicationPCBforemissionreductionpurposes.Thismethodiscalledthe"magneticprobemethod".
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200;33_100_10
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:英语
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