IEC 60851-1 AMD 2-2009 绕组线.试验方法.第1部分:总论.修改件2

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 09:10:44   浏览:9330   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Windingwires-Testmethods-Part1:General;Amendment2
【原文标准名称】:绕组线.试验方法.第1部分:总论.修改件2
【标准号】:IEC60851-1AMD2-2009
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2009-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC55
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:目次;定义;电线;电气工程;电性质和电现象;总论;绝缘线;测量;测量技术;试验;绕组线;绕组;线材
【英文主题词】:Contentslists;Definitions;Electricwires;Electricalengineering;Electricalpropertiesandphenomena;Generalsection;Insulatedwires;Measurement;Measuringtechniques;Testing;Windingwires;Windings;Wires
【摘要】:
【中国标准分类号】:K12
【国际标准分类号】:29_060_10
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringSurfaceMetalContaminationonSiliconWafersbyTotalReflectionX-RayFluorescenceSpectroscopy
【原文标准名称】:使用全反射X射线荧光光谱法测量硅片金属表面污染(杂质)的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1526-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:比较技术;表面分析;金属和金属材料;装置;硅片;全反射X射线;计算硅片金属表面污染比较的成套设备;差异数据集;光线荧光性;射线荧光光谱法;射线荧光光谱法;射线荧光光谱法TXRF;射线荧光性XRF;半导体硅片;金属表面污染
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Z13
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Analysisofsurfaceactiveagents(rawmaterials).Ethyleneoxideadducts.Methodfordeterminationofoxyethylenegroups
【原文标准名称】:表面活性剂(原料)的分析.第4部分:乙基氧化加成化合物.第3节:氧化乙烯基的测定方法
【标准号】:BS6829Sec.4.3-1990
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1990-01-31
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:容量分析;试验设备;表面活性剂;化学分析和试验;乙醇盐;试验条件;含量测定;再现性;干扰(化学);原材料;氧化乙烯;碘滴定法
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G72
【国际标准分类号】:
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语