NF C96-022-20-2010 半导体装置.机械和气候试验方法.第20部分:SMDs塑料囊状物抗湿气和焊接热的综合影响
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时间:2024-05-02 13:31:40
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part20:resistanceofplasticencapsulatedSMDstothecombinedeffectofmoistureandsolderingheat.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第20部分:SMDs塑料囊状物抗湿气和焊接热的综合影响
【标准号】:NFC96-022-20-2010
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2010-02-01
【实施或试行日期】:2010-02-13
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;组件;破坏试验;电气工程;电子工程;电子设备及元件;环境试验;集成电路;机械试验;抗湿;塑料;耐力;半导体器件;半导体;表面安装设备;耐钎焊温度;表面安装;表面安装装置;试验;热稳定性
【英文主题词】:Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moistureresistance;Plastics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Solderingtemperatureresistance;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Testing;Thermalstability
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:31P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第20部分:SMDs塑料囊状物抗湿气和焊接热的综合影响
【标准号】:NFC96-022-20-2010
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2010-02-01
【实施或试行日期】:2010-02-13
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;组件;破坏试验;电气工程;电子工程;电子设备及元件;环境试验;集成电路;机械试验;抗湿;塑料;耐力;半导体器件;半导体;表面安装设备;耐钎焊温度;表面安装;表面安装装置;试验;热稳定性
【英文主题词】:Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moistureresistance;Plastics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Solderingtemperatureresistance;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Testing;Thermalstability
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:31P;A4
【正文语种】:其他
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