IEEE 1500-2005 嵌入式基于芯片的集成电路的可试性方法
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时间:2024-05-15 21:21:34
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【英文标准名称】:Testablilitymethodforembeddedcore-basedintegratedcircuits
【原文标准名称】:嵌入式基于芯片的集成电路的可试性方法
【标准号】:IEEE1500-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;IP;集成电路;定义;数据处理;数据记录;计算机硬件;电子工程;开关电路;印制电路;可重复使用;芯;数字的;试验
【英文主题词】:Computerhardware;Cores;Dataprocessing;Datarecords;Definition;Definitions;Digital;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;IP;Printedcircuits;Re-usable;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:128P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:嵌入式基于芯片的集成电路的可试性方法
【标准号】:IEEE1500-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;IP;集成电路;定义;数据处理;数据记录;计算机硬件;电子工程;开关电路;印制电路;可重复使用;芯;数字的;试验
【英文主题词】:Computerhardware;Cores;Dataprocessing;Datarecords;Definition;Definitions;Digital;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;IP;Printedcircuits;Re-usable;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:128P;A4
【正文语种】:英语
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